Triertech T8000 3D SPI,真3D检测小角度2路投影系统,更大程度消除小间距遮挡突破性摩尔条纹算法,进一步减少CT时间
-3D SPI,品质管控利器
-小角度2路投影系统,更大程度消除小间距遮挡
-突破性摩尔条纹算法,进一步减少CT时间
-高密度大理石平台, 为高精度成像提供保障
-多角度光源配合高分辨率相机和远心镜头,大幅度提升检测效果
-丝印干扰去除算法,去除丝印干扰导致的定位错误
-强大的SPC 软件,提供丰富准确的数据统计